マイクロクラックや微小な欠けを検査するための独自アルゴリズムと
光学系のラインアップを多数用意しております。
これらを組み合わせることで安定したクラック／欠け検査が可能です。
裏面と4側面を同時に検査する「5面検査ユニット」や
対向する2側面の欠陥部分を詳細に検査する「2側面ユニット」など、
側面を検査するためのユニットを用意しております。
UNICONの特長の一つでもある「クラック/欠け検査」と組み合わせることで、
側面の微小な欠陥を安定して検査することが可能です。
近赤外光を利用した検査ユニットにより、
内部に発生したマイクロクラック等の欠陥を投影させ検査する事が可能です。
側面透過検査（内部クラック）
上面透過検査（内部クラック）
設定を変更すると即座に結果が画像と数値で反映されます。
微調時に検査実行ボタンを行うことなく結果を確認できますので、
設定時間短縮に繋がります。
設定変更を行った詳細内容を日時、コメントとともに履歴として残します。
更にはボタンひとつで過去の任意の状態まで遡って設定を戻すことが可能です。
事前に保存した多数の画像に対して自動で検査を行います。
設定変更を装置へ反映させる前にその妥当性を検証することが可能です。
検査内容がツリー状に配置されており検査項目を直感的に把握できます。
また登録したテンプレート画像の濃淡値やエッジなどの情報から
良し悪しを判断するなど検査内容の不備をチェック機能を用意しています。
複数の装置の外観検査パラメータをアプリケーションで一括監管理する事ができます。
パラメータは常時監視され機差の大きなものや異常値を検知した場合は警告を出します。
