マイクロクラックや微小な欠けを検査するための独自アルゴリズムと
光学系のラインアップを多数用意しております。
これらを組み合わせることで安定したクラック／欠け検査が可能です。
裏面と4側面を同時に検査する「5面検査ユニット」や
対向する2側面の欠陥部分を詳細に検査する「2側面ユニット」など、
側面を検査するためのユニットを用意しております。
UNICONの特長の一つでもある「クラック/欠け検査」と組み合わせることで、
側面の微小な欠陥を安定して検査することが可能です。
近赤外光を利用した検査ユニットにより、
内部に発生したマイクロクラック等の欠陥を投影させ検査する事が可能です。
側面透過検査（内部クラック）
上面透過検査（内部クラック）
オプションにより従来の視野を維持したまま、より鮮明に高精度の検査も可能となります。
また、製品の状態により影が生じることが過剰検出の一因となっています。
光学構成を工夫することにより不良以外の影の影響を小さくし、歩留まりを向上させることが可能となります。
AIを使った検査に基づく不良検出などの機能を用意しております。
従来のルールベースによる検査と組み合わせることで安定した検出が可能となります。
AIが製品のどこを見て不良と判断したのか人間には分かりません。
この問題を解決するためにヒートマップ機能を搭載しております。
※ヒートマップ・・・AI の判断根拠となったピクセルを重要度に応じて強調したもの
弊社のヒートマップ機能では重要度の高い部分を赤色、重要度の低い部分を青色にして表示します
精度の高いAIを作成するには良品/不良品の大量のデータが必要になります。
しかし、不良品は発生する頻度が少なくデータを収集するのが困難です。
この課題を解決するため良品データのみ or 良品データ+少量の不良品データで
学習可能な良品学習を実装しております。
業界最高クラスの高解像度カメラ・高倍率のレンズを用いることで超高詳細検査が可能となります。
マイクロクラック検査や微細な異物検査などの微小な欠陥検出で威力を発揮します。
設定を変更すると即座に結果が画像と数値で反映されます。
微調時に検査実行ボタンを行うことなく結果を確認できますので、
設定時間短縮に繋がります。
設定変更を行った詳細内容を日時、コメントとともに履歴として残します。
更にはボタンひとつで過去の任意の状態まで遡って設定を戻すことが可能です。
事前に保存した多数の画像に対して自動で検査を行います。
設定変更を装置へ反映させる前にその妥当性を検証することが可能です。
検査内容がツリー状に配置されており検査項目を直感的に把握できます。
また登録したテンプレート画像の濃淡値やエッジなどの情報から
良し悪しを判断するなど検査内容の不備をチェック機能を用意しています。
計測したデータやそれらの判定条件(上限・下限の設定)をグラフ化する事ができます。
